Semantic models for field device performance monitoring in the process industry in the context of industry 4.0

Hana, Ramy Sherif Labib; Kleinert, Tobias Theodor

Düsseldorf : VDI Verlag (2023)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: Transformation by automation : Automation 2023 : 24. Leitkongress der Mess- und Automatisierungstechnik : 27. und 28. Juni 2023, Baden-Baden / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Seite(n)/Artikel-Nr.: 233-243

Einrichtungen

• Fachgruppe für Materialwissenschaft und Werkstofftechnik [520000]
• Lehrstuhl für Informations- und Automatisierungssysteme für die Prozess- und Werkstofftechnik [526610]